AX / AX R
AX / AX R
Descrição
Melhorando a perfeição
Os microscópios confocais estão disponíveis comercialmente há mais de 25 anos. Como as versões mais recentes de um instrumento fundamentalmente simples podem continuar inovando? Quais mudanças podem redefinir como um confocal é usado e quais dados podem ser coletados? Apresentamos o Sistema de Microscópio Confocal Nikon AX/AX R, nosso confocal de varredura de 10ª geração, que dá a você mais de tudo: aprimoramento da Inteligência Artificial (AI), expansão do número de cores e aperfeiçoamento da densidade de pixels, sensibilidade e velocidade.
Essas são adições significativas que permitem expandir a gama de experimentos possíveis utilizando um confocal de varredura, aumentando a usabilidade e funcionalidade do instrumento – tudo em uma plataforma modular e atualizável.
Nikon AX é o novo padrão em imagem confocal.
Especificações
AX | AX R | |
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Cabeça de varredura | Scanner galvano com FOV de 25 mm Até 8.192 x 8.192 pixels Até 10 fps a 512 x 512 pixels Tempo de permanência do pixel de até 2 milissegundos Suporta imagem bidirecional e imagem de varredura de linha |
Scanner ressonante com FOV de 25 mm Scanner galvano com FOV de 25 mm Até 2048 x 2048 pixels para 2K (1024 x 1024 pixels para 1K) Até 720 fps a 2048 x 16 pixels para 2K (720 fps a 1024 x 16 pixels para 1K) 30 fps a 2048 x 512 pixels para 2K (1024 x 512 pixels para 1K) Suporta imagem bidirecional e imagem de varredura de linha |
Porta de entrada / saída da cabeça de varredura | 2 portas de entrada de laser, conexão de fibra FC 2 portas de saída de sinal, conexão de fibra FC Portas de acesso de excitação e emissão |
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Laser | Até 8 lasers visíveis Espectro compatível: 405-750 nm |
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Espelho dicróico | Até 6 espelhos personalizáveis | |
Detector DUX-VB | 2 ou 4 canais Bandas de emissão livremente sintonizáveis com precisão de ± 1 nm e até 66 canais espectrais distintos Até 12 filtros passagens de banda Opções de detectores PMT: GaAsP ou Multi-alkali |
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Detector DUX-ST | 2 ou 4 canais Até 18 filtros passagens de banda Opções de detectores PMT: GaAsP ou Multi-alkali |
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Detector diascópicor | Detector PMT compacto | |
Pinhole | Variável continuamente | |
FOV | Diâmetro máximo de 25 mm (círculo) inscrito por um retângulo | |
Série Z | Ti2-E: 0,01 μm, 0,02 μm (com controle do codificador), motor de passo FN1: 0,05 μm, Ni-E: 0,025 μm | |
Microscópios compatíveis | Microscópio invertido Ti2-E com FOV máximo de 25 mm Microscópios verticais Ni-E e FN1 com FOV máximo de 25 mm |
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Opções | Fotoestimulação (raster de ponto ou microespelho digital) Imagem de fluorescência vitalícia incluindo FLIM rápido Z piezoelétrico (ou XYZ) Câmara com controle de ambiente ou incubadora Outras modalidades, como TIRF, N-STORM ou N-SIM S |
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Programas | Nikon NIS-Elements C Módulos opcionais disponíveis Imagens de até 16 bits (65.536 níveis de cinza com integração fina) com várias opções de saída de arquivo |
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Estação de trabalho de controle | Microsoft Windows® 10 64bit Professional com placa gráfica acelerada por GPU | |
Condições de instalação recomendadasns | Condições de instalação recomendadas |
Software de imagem abrangente
O software de imagem NIS-Elements permite o controle integrado de microscópios e dispositivos periféricos, bem como de sistemas confocais. Além de várias funções para acquisição de imagem confocal, ele possui uma ampla variedade de ferramentas de AI, que suportam a otimização da análise de imagens, e módulos opcionais, que permitem a personalização de fluxos de trabalho de análises e experimentos.
ER (Resolução Estendida)
O NIS-Elements ER pode ser utilizado para melhorar a resolução espacial confocal em até 120 nm (lateral) / 300 nm (axial) por meio do processamento GPU, com configurações automáticas de parâmetros e opções definidas pelo usuário.
Definição Personalizada de Experimentos
O NIS-Elements possui recursos internos de experimento multidimensional (multi-XY, Z, T, multicanal). Adicionar o módulo opcional JOBS permite ainda mais customização, como a configuração de experimentos não ortogonais com vários caminhos e dimensões. Freqüentemente, os experimentos exigem customização para agilizar a aquisição e capturar todos os dados necessários. A análise dos dados pode até mesmo ser feita em tempo real durante o experimento, e a direção do experimento pode ser alterada com base nos resultados da análise. Os usuários têm flexibilidade máxima para projetar experimentos que maximizam suas necessidades de saída de dados.
Protocolo de experimento JOBS
Inovações do software de AI projetadas para ajudar
Da aquisição à análise, o software NIS-Elements da Nikon é um líder pioneiro na implementação da aprendizagem profunda baseada em rede neural convolucional (CNN) para microscopia. Várias ferramentas de AI estão disponíveis, muitas direcionadas especificamente para auxiliar os usuários na aquisição, processamento e análise de dados confocais. Essas ferramentas auxiliam os usuários na obtenção de imagens com relação sinal-ruído (S/N) adequadas para processamento e análise, e permitem a segmentação e aprimoramento de imagem ou transformação de modalidade.
Ponto de partida
A imagem confocal tem diversas variáveis que devem ser ajustadas para melhorar a qualidade de imagem, a estabilidade da amostra a longo prazo e alcançar uma relação sinal-ruído estatisticamente válida. As ferramentas NIS-Elements AI foram projetadas visando atingir essas metas.
Autosignal.ai
Novo para AX/AX R: Autosignal.ai pode sugerir automaticamente as melhores configurações de iluminação e detecção, em vez de os usuários tentarem encontrar manualmente as melhores configurações, por tentativa e erro ou durante a digitalização em tempo real – expondo a amostra desnecessariamente.
Denoise.ai
O ruído de disparo é a principal fonte de ruído na imagem confocal. O Denoise.ai pode remover o componente do ruído de disparo de imagens confocais, melhorando a qualidade da imagem e auxiliando na segmentação downstream.
Segment.ai
Uma caixa de ferramentas de funções de AI auxilia os usuários na segmentação fácil de imagens; depois de treinar a AI, a segmentação que levaria horas pelos métodos tradicionais (como amostras com intensidade uniforme, tornando o limiar tradicional de diferentes morfologias quase impossível) pode ser feita em segundos.
Óptica superior para confocal
O controle da fabricação e implementação de óptica, desde as matérias prima até os sistemas completos do microscópio, proporciona qualidade óptica e desempenho incomparáveis.
O design óptico complementar significa que o sistema confocal, o microscópio e as objetivas são otimizados e combinados para garantir qualidade e resolução superiores.
O sistema de óptica corrigida ao infinito, CFI60 e 75, da Nikon, tem inúmeras opções para magnificações, distâncias de trabalho e meios de imersão, combinadas para uso em uma variedade extremamente ampla de amostras e preparações de espécimes.
Revestimento de nanocristal para transmissão superior
O revestimento de nanocristal exclusivo da Nikon é um revestimento antirreflexo que consiste em partículas cristalinas ultrafinas. Isso forma uma estrutura grosseira que reduz o índice de refletância, facilitando a passagem da luz através da lente, em vez de refleti-la, proporcionando, assim, uma transmissão de luz superior.
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